Оптические и магнитооптические свойства магнитных наноструктур по данным in situ магнитооптической эллипсометрии Максимова Ольга Александровна

Короткий опис

Максимова, Ольга Александровна.Оптические и магнитооптические свойства магнитных наноструктур по данным in situ магнитооптической эллипсометрии : диссертация ... кандидата физико-математических наук : 01.04.07 / Максимова Ольга Александровна; [Место защиты: ФГБНУ «Федеральный исследовательский центр «Красноярский научный центр Сибирского отделения Российской академии наук»]. - Красноярск, 2020. - 130 с. : ил.

Оглавление диссертациикандидат наук Максимова Ольга Александровна
ОГЛАВЛЕНИЕ
ВВЕДЕНИЕ
ГЛАВА 1 Отражательная спектральная магнитооптическая эллипсометрия как метод анализа оптических и магнитооптических свойств тонких пленок
1.1 Традиционная эллипсометрия
1.2 Поверхностный магнитооптический эффект Керра
1.3 Математическое описание метода магнитооптической эллипсометрии при геометрии ЭЭК
1.4 Расчет коэффициентов отражения
1.4.1 Однородная полубесконечная среда
1.4.2 Модель «среда - пленка - подложка»
1.4.3 Модель многослойной среды
1.5 Использование метода магнитооптической эллипсометрии: литературный обзор
ГЛАВА 2 Методика нахождения компонент тензора диэлектрической проницаемости по экспериментальным магнитоэллипсометрическим данным для различных моделей отражающих ферромагнитных наноструктур
2.1 Модель однородной полубесконечной среды при исследовании объемного ферромагнитного образца на немагнитной подложке
2.1.1 Аналитический метод определения компонент тензора диэлектрической проницаемости
2.1.2 Численный метод определения компонент тензора диэлектрической проницаемости
2.2 Модель «среда - тонкая ферромагнитная пленка - немагнитная подложка»
2.3 Модель многослойной среды для образца с одним ферромагнитным слоем
2.4 Обоснование выбора симплекс-метода Нелдера-Мида для определения экстремумов функции минимизации
2.5 Вычисление погрешностей
2.6 Выводы к главе
ГЛАВА 3 Апробация методики нахождения компонент тензора диэлектрической проницаемости по экспериментальным магнитоэллипсометрическим данным при анализе структуры Fe/SiO2/Si
3.1 Методика проведения эксперимента
3.2 Анализ структуры Fe/SiO2/Si методом in situ спектральной магнитооптической эллипсометрии
3.2.1 Спектральные оптические свойства структуры Fe/SiO2/Si
3.2.2 Спектральные магнитооптические свойства структуры Fe/SiO2/Si
3.3 Анализ компонент тензора диэлектрической проницаемости поликристаллического Fe в структуре Fe/SiO2/Si, рассчитанных по экспериментальным магнитоэллипсометрическим данным
3.4 Выводы к главе
ГЛАВА 4 Экспериментальные исследования методом in situ спектральной магнитооптической эллипсометрии тонких
поликристаллических пленок Fe/SiO2/Si с разными толщинами слоя
Fe
4.1 Экспериментальные образцы и методика проведения эксперимента
4.2 Обработка экспериментальных магнитоэллипсометрических данных для различных моделей отражающих ферромагнитных наноструктур
4.2.1 Анализ роли толщины слоя Fe
4.2.2 Анализ влияния интерфейсов SiO2/Fe и Fe/вакуум
4.3 Анализ диагональных компонент тензора диэлектрической проницаемости
4.4 Анализ недиагональных компонент тензора диэлектрической проницаемости
4.5 Выводы к главе
ЗАКЛЮЧЕНИЕ
СПИСОК СОКРАЩЕНИЙ И УСЛОВНЫХ ОБОЗНАЧЕНИЙ
СПИСОК ЛИТЕРАТУРЫ
ВВЕДЕНИЕ