ОСТАННІ НОВИНИ
| Бесплатное скачивание авторефератов |
| СКИДКА НА ДОСТАВКУ РАБОТ! |
| Увеличение числа диссертаций в базе |
| Снижение цен на доставку работ 2002-2008 годов |
| Доставка любых диссертаций из России и Украины |
ОСТАННІ ВІДГУКИ
Каталог / ТЕХНІЧНІ НАУКИ / Метрологія та метрологічне забезпечення
скачать файл:
- Назва:
- Сичікова Яна Олександрівна Науково- методологічні засади оцінювання якості й властивостей наноструктур на поверхні напівпровідників
- Альтернативное название:
- Сычикова Яна Александровна Научно методологические основы оценки качества и свойств наноструктур на поверхности полупроводников
- Кількість сторінок:
- 200
- ВНЗ:
- Інститут метрології
- Рік захисту:
- 2019
- Короткий опис:
- Сичікова Яна Олександрівна, доцент кафедри професійної освіти, трудового навчання та технологій Бердянського державного педагогічного університету: «Науково- методологічні засади оцінювання якості й властивостей наноструктур на поверхні напівпровідників» (05.01.02 - стандартизація, сертифікація та метрологічне забезпечення). Спецрада Д 64.827.01 у ННЦ «Інститут метрології» Мінекономрозвитку України
- Список літератури:
- -
- Стоимость доставки:
- 200.00 грн
