ОСТАННІ НОВИНИ
| Бесплатное скачивание авторефератов |
| СКИДКА НА ДОСТАВКУ РАБОТ! |
| Увеличение числа диссертаций в базе |
| Снижение цен на доставку работ 2002-2008 годов |
| Доставка любых диссертаций из России и Украины |
ОСТАННІ ВІДГУКИ
Каталог / Фізико-математичні науки / фізична електроніка
скачать файл:
- Назва:
- Заблоцкий Алексей Васильевич. Особенности измерений линейных размеров субмикронных структур методом растровой электронной микроскопии
- Кількість сторінок:
- 200
- ВНЗ:
- Моск. физ.-техн. ин-т (гос. ун-т)
- Рік захисту:
- 2009
- Короткий опис:
- Заблоцкий Алексей Васильевич. Особенности измерений линейных размеров субмикронных структур методом растровой электронной микроскопии : диссертация ... кандидата физико-математических наук : 01.04.04 / Заблоцкий Алексей Васильевич; [Место защиты: Моск. физ.-техн. ин-т (гос. ун-т)].- Долгопрудный, 2009.- 129 с.: ил. РГБ ОД, 61 10-1/255
- Список літератури:
- -
- Стоимость доставки:
- 230.00 руб
