Метод та засіб вимірювального контролю товщини діелектричних покриттів металевих поверхонь

Краткое содержание

ОСНОВНИЙ ЗМІСТ РОБОТИ

У вступі обґрунтовано актуальність теми дисертації, зазначено її зв'язок з науковими програмами, планами та темами, сформульовано мету та напрямок досліджень, відзначено наукову новизну та практичне значення одержаних результатів, надано інформацію про їх впровадження, апробацію та публікації.

У першому розділі проведено огляд існуючих методів та засобів вимірювального контролю товщини діелектричних покриттів металевих поверхонь. В результаті проведеного огляду існуючих методів та засобів вимірювального контролю товщини діелектричних покриттів металевих поверхонь зроблено висновок про те, що вони не забезпечують необхідної точності вимірювання в діапазоні зміни товщини від 0 мкм до 200 мкм, є незручними для використання в системах автоматичного контролю, а перетворювачі товщини, котрі засновані на відомих фізичних принципах, потребують вдосконалення для покращення їх метрологічних, технічних та економічних характеристик. Для вибору базового методу для розробки засобу вимірювального контролю був використаний узагальнений якісний критерій ефективності. На основі проведеного аналізу зроблено висновок про те, що найбільш придатним для використання в системах автоматичного контролю, є  вихрострумовий метод, який забезпечує достатню точність вимірювання при високих показниках стабільності та простоті конструкції первинного вимірювального перетворювача (ПВП) товщини покриття.