Эмиссия фотонов при взаимодействии электронов и ионов с поверхностью металлов Поп, Степан Степанович

Краткое описание

Поп,СтепанСтепанович.Эмиссияфотоновпривзаимодействииэлектроновиионовсповерхностьюметаллов: диссертация ... доктора физико-математических наук : 01.04.04. - Ужгород, 1984. - 379 с. : ил.больше
Цитаты из текста:

стр. 1
рукописиПОПСтепанСтепанович01» УДК 537.533;537.534 ЭШССИЯФОТОНОВПРИВЗАИМОДЕЙСТВИИЭЛЕКТРОНОВиИОНОВсПОВЕРХНОСТЬЮМЕТАЛЛОВСпециальность 01.04.04

стр. 24
1.2. Установка для исследованияэлектрон-фотоннойэмиссииметалловДля исследованияэмиссиифотоновприэлектронном облученииповерхностейметалловсоздан сверхвысоковакуумныйэлектрон-фотон­ ный спектрометр [28]. Схема этой установки, получившей название "Плазмон", изображена на рис.1.2. Она содержит следующие

стр. 44
Методики измерения основных характеристик ЭФЭ I.4.I. Основные определения.Эмиссииэлектромагнитного излу­ ченияпривзаимодействииэлектроновмалых и средних энергий сме­ таллом, названнаяэлектрон-фотоннойэмиссией(ЭФЭ) [l0,22], вклю- Енс. I.II. Блок-схема системы детектирования излучения в режиме

Оглавление диссертациидоктор физико-математических наук Поп, Степан Степанович
ВВЕДЕНИЕ.
ГЛАВА I. МЕТОДИКА ИССЛЕДОВАНИЙ И АППАРАТУРА.
1.1. Введение.
1.2. Установка для исследования электрон-фотонной эмиссии металлов
1.2.1.Камера взаимодействия
1.2.2.Источник электронов
1.2.3.Гониометрическое устройство
1.2.4.Система анализа и детектирования излучения
1.3. Установки для исследования ионно-фотонной эмиссии.
I.3.1.Общие схемы установок
1.3.2.Источники ионов "
1.3.3.Аппаратура айалийа и детектирования излучения
1.4. Методики измерения основных характеристик ЭФЭ 44 I.4.1.Основные определения
1.4.2.Измерение интенсивности и спектрального состава излучения
1.4.3.Измерение поляризационных характеристик
1.4.4.Измерение угловых характеристик
1.4.5.Измерение зависимостей от энергии и плотности тока электронов
1.4.6.Подготовка образцов.
1.5. Методики исследования основных характеристик
1.5.1. Общие сведения
1.5.2.Измерение интенсивности излучения и эмиссионных спектров
1.5.3.Измерение распределения интенсивности по ореолу свечения
1.5.4.Измерение скоростей вторичных возбужденных частиц.
1.5.5.Измерение выхода фотонов в зависимости от энергии, массы, плотности тока и сорта первичных ионов
1.5.6.Измерение динамических характеристик ИФЭ металлов при окислении
1.5.7.Измерение температурных зависимостей
1.5.8.Методика измерений с участием многозарядных ионов.
1.5.9.Подготовка мишеней
1.6. Абсолютные измерения интенсивноетей в близкой ультрафиолетовой и видимой областях спектра
I.6.1.Относительные измерения
1.6.2.Учет поляризующей способности аппаратуры
1.6.3.Абсолютные измерения
1.6.4.Ошибки измерений
ГЛАВА 2. РЕЗУЛЬТАТЫ ИССЛЕДОВАНИЙ ЭЛЕКТРОННО-ФОТОННОЙ
ЭШССШ'ШТАЛЛОВ'.
2.1.Состояние вопроса.
2.2. Спектры оптического излучения
2.2.1.Благородные металлы
2.2.2.Тугоплавкие металлы
2.2.3.Зависимость от энергии и плотности тока возбуждающих электронов.
2.3. Абсолютная величина интенсивности ЭФЭ.
2.3.1.Зависимость от материала мишени
2.3.2.Зависимость от параметров электронного пучка.
2.4. Угловые характеристики.
2.4.1.Зависимость спектрального состава излучения от угла его наблюдения и угла падения электронов на мишень.
2.4.2.Угловые зависимости интенсивности излучения
2.5. Поляризационные характеристики
2.5.1.Степень поляризации излучения и ее спектральная зависимость.
2.5.2.Зависимость интенсивности поляризованного излучения и степени его поляризации от угла наблюдения.
2.6. Выводы.
ГЛАВА 3. ОСНОВНЫЕ МЕХАНИЗМЫ ЭЛЕКТРОННО-ФОТОННОЙ ЭМИССИИ
МЕТАЛЛОВ.
3.1. Введение.
3.2. Поверхностно-тормозное излучение
3.3. Излучательный распад поверхностных плазмонов
3.4. Межзонная излучательная рекомбинация
3.5. Электронно-фотонная спектроскопия - метод исследования свойств приповерхностных слоев твердого тела.
3.5.1. Изучение энергетической структуры.
3.5.2.Изучение адсорбционных процессов.
3.6. Выводы.
ГЛАВА 4. РЕЗУЛЬТАТЫ ИССЛЕДОВАНИЙ И ЗАКОНОМЕРНОСТИ
И0НН0-Ф0Т0НН0Й ЭМИССИИ ЧИСТЫХ И ПОКРЫТЫХ КИСЛОРОДОМ ПОВЕРХНОСТЕЙ МЕТАЛЛОВ.
4.1. Состояние исследований
4.2. Эмиссионные спектры
4.2.1.Спектры At , Be , Щ и in.
4.2.2.Спектры Си., , Ац , Со , At f Р* и Sn,.
4.2.3. Спектры Мо , Та ш W.
4.2.4.Влияние сорта, заряда и энергии первичных ионов.
4.2.5.Влияние периодической структуры мишени
4.2.6.Спектры частиц первичного пучка
4.3. Зависимость выхода фотонов от температуры мишени.
4.3.1.Влияние имплантированных частиц первичного пучка на ИФЭ.
4.3.2. ИФЭ при полиморфном и магнитном превращении металлов.
4.4. Влияние состояния поверхности на интенсивность ИФЭ.
4.4.1.Зависимость интенсивности линейчатого излучения от давления кислорода
4.4.2.Влияние адсорбированного, имплантированного и растворенного в металле кислорода на ИФЭ . . 253 4.4.3. Зависимость выхода фотонов от плотности тока первичных ионов.
4.5. Зависимость выхода фотонов от энергии первичных ионов
4.5.1.Функции эмиссии для атомных линий.
4.5.2.Функции эмиссии для ионных линий
4.6. Скорости вторичных возбужденных частиц
4.6.1.Средние скорости вторичных частиц первичного пучка
4.6.2.Скорости возбужденных распыленных атомов металлов.
4.6.3.Влияние состояния поверхности металла на скорость распыленных возбужденных частиц
4.7. Абсолютные величины выхода фотонов для чистых и покрытых кислородом поверхностей металлов
4.7.1.Зависимость от материала мишени и состояния ее поверхности.
4.7.2.Влияние матрицы на вероятность возбуждения распыленных атомов примеси
4.7.3.Заселенности возбужденных состояний распыленных атомов.
4.8. Выводы.
ГЛАВА. 5. МЕХАНИЗМЫ И0БН0-Ф0Т0БН0Й ЭМИССИИ.
5.1. Введение.
5.2. Общие представления о процессах и механизмах образования возбужденных вторичных частиц
5.3. Идентификация основных механизмов ИФЭ металлов
5.4. Квантовомеханическая модель возбуждения распыленных атомов
5.4.1.Анализ теоретических работ
5.4.2.Исходные положения модели.
5.4.3.Учет процессов нерадиационного девозбуждения.
5.4.4.Учет других электронно-обменных процессов
5.4.5.Выбор возмущающего потенциала и модельных параметров.
5.5. Кинетический механизм формирования возбужденных состояний атомов
5.6. О применимости термодинамического подхода к описанию ИФЭ
5.7. Природа излучателей молекулярных полос
5.8. Ионно-фотонная спектроскопия - метод диагностики поверхности.
5.8.1.Состояние вопроса
5.8.2.Физические принципы. Качественный и количественный анализ.
5.8.3.Послойный анализ.
5.8.4.Исследование процессов на поверхности
5.8.5.Достоинства и недостатки метода
5.9. Выводы.