Интерпретация данных рентгеновской и нейтронной рефлектометрии тонких пленок с применением глобальной минимизации Самойленко, Иван Иванович

Краткое описание

Самойленко,ИванИванович.Интерпретацияданныхрентгеновскойинейтроннойрефлектометриитонкихпленоксприменениемглобальнойминимизации: диссертация ... кандидата физико-математических наук : 01.04.18. - Москва, 1999. - 144 с. : ил.больше
Цитаты из текста:

стр. 1
РОССИЙСКАЯ АКАДЕМИЯ НАУК ИНСТИТУТ КРИСТАЛЛОГРАФИИ им. А.В.ШУБНИКОВА на нравах рукописиСАМОЙЛЕНКОИванИвановичИнтерпретацияданныхрентгеновскойинейтроннойрефлектометриитонкихпленоксприменениемглобальнойминимизацииДиссертация на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук

стр. 1
наук, профессор Б.М.Щедрин Ccl4i^C^^^'^ Москва - 1999 2ИнтерпретацияданныхрентгеновскойинейтроннойрефлектометриитонкихпленоксприменениемглобальнойминимизацииСОДЕРЖАНИЕ Содержание Введение Глава 1. Принципы рефлектометрического исследования 1.1 Методы расчета коэффициента отражения 1.1.1 1.1.2

стр. 143
Статистическая оценка точности определения и параметров структуры поданнымрентгеновскойЛ.А. Фейгин, определениянейтроннойрефлектометрии. Статистическая О.В. Коновалов, оценка точности Б.М. Щедрин параметров структуры поданнымрентгеновскойи 144нейтроннойрефлектометрии.//Кристаллография. - 1996. -

Оглавление диссертациикандидат физико-математических наук Самойленко, Иван Иванович
СОДЕРЖАНИЕ
Содержание
Введение
Глава 1. Принципы рефлектометрического исследования
1.1 Методы расчета коэффициента отражения
1.1.1 Метод рекуррентных соотношений
1.1.2 Матричный подход
1.1.3 Расчет коэффициента отражения от слоистых систем с плавным профилем
границ раздела
1-2 Измерение коэффициента отражения
1.3 Обратная задача рефлектометрии
1.3.1 Параметризация модели
1.3.2 Критерий качества моделирования
1.3.3 Оценивание точности значений параметров модели
1.3.4 Использование априорной информации при решении обратной задачи
1.4 Методы оптимизации
1.4.1 Методы, основанные на вычислении 35 интегралов
1.4.2 Методы спуска
1.4.3 Методы, основанные на решении дифференциальных уравнений
1.4.4 Методы покрытий
1.4.5 Методы, основанные на сглаживании
целевой функции
1.4.6 Метод последовательного спуска по системе локальных минимумов
1.5 Использование рефлектометрии в структурных исследованиях
Глава 2 Использование метода последовательного спуска для
глобальной минимизации
2.1 Концепция последовательного спуска
2.2 Построение вспомогательной целевой функции
2.3 Особенности спуска по вспомогательной целевой
2.4 Алгоритмическая реализация
2.5 Тестирование алгоритмов
2.5.1 Минимизация полиномиальных функций
2.5.2 Моделирование имитационных 81 реф лектограмм
2.6 Привлечение дополнительных методов
2.7 Применимость для интерпретации
Глава 3 Статистические гипотезы как инструмент анализа
значимости параметров структурной модели
3.1 Критерии интерпретируемости модели
3.2 Линейные модели
3.3 Проверка значимости параметров в рефлектометрии
3.4 Заключение
Глава 4 Интерпретация реальных данных
4.1 Пакет программ для интерпретации рефлектометрических данных КЕРЬАЫ
4.2 Алгоритм интерпретации
4.3 Построение модели
4.4 Исследование фазовых переходов в свободно 122 висящих пленках
4.5 Заключение
Выводы
Список цитированной литературы
Приложение