Об оценках длин минимальных тестов для логических схем Романов Дмитрий Сергеевич

Краткое описание

Романов, Дмитрий Сергеевич.
Об оценках длин минимальных тестов для логических схем : диссертация ... доктора физико-математических наук : 01.01.09 / Романов Дмитрий Сергеевич; [Место защиты: Моск. гос. ун-т им. М.В. Ломоносова]. - Москва, 2019. - 350 с. : ил.
Оглавление диссертациидоктор наук Романов Дмитрий Сергеевич
Введение
В1. Обзор результатов, примыкающих к теме диссертации
В2. Базовые определения и обозначения
В3. Структура и основные результаты диссертации
Глава 1. Некоторые оценки длин тестов при неисправностях на входах схем
§ 1. Проверяющие тесты для счетчика четности относительно некоторых типов константных неисправностей на входах схем
§ 2. Тесты относительно локальных слипаний входов схем
§ 3. Тесты относительно перестановок входов схем
Глава 2. Некоторые оценки длин тестов при неисправностях в схемах из функциональных элементов
§ 4. Единичные проверяющие тесты при константных неисправностях на выходах функциональных элементов произвольного полного базиса
§ 5. Единичные проверяющие тесты при константных неисправностях на входах и выходах функциональных элементов
§ 6. Полные проверяющие тесты при константных неисправностях на выходах функциональных элементов некоторого базиса
§ 7. Полные проверяющие тесты при инверсных неисправностях на выходах функциональных элементов некоторого базиса
§ 8. Единичные диагностические тесты при константных неисправностях на выходах функциональных элементов
§ 9. Единичные диагностические тесты при инверсных неисправностях на
выходах функциональных элементов
Глава 3. Некоторые оценки длин проверяющих тестов при неисправностях контактов в схемах переключательного типа
§ 10. Проверяющие тесты при неисправностях контактов в контактных схемах
§ 11. Проверяющие тесты при неисправностях контактов в обобщенных итеративных контактных схемах
Заключение
Литература