Рассеяние протонов кэвных энергий как инструмент анализа тонких слоев на поверхности материалов ТЯР Булгадарян Даниэль Грантович

Краткое описание

Булгадарян, Даниэль Грантович.
Рассеяние протонов кэвных энергий как инструмент анализа тонких слоев на поверхности материалов ТЯР : диссертация ... кандидата физико-математических наук : 01.04.08 / Булгадарян Даниэль Грантович; [Место защиты: ФГАОУ ВО «Национальный исследовательский ядерный университет «МИФИ»]. - Москва, 2020. - 116 с. : ил.
Оглавление диссертациикандидат наук Булгадарян Даниэль Грантович
Введение
Глава 1. Современное состояние методов диагностики взаимодействия плазмы с поверхностью в термоядерных установках
1.1. Взаимодействие плазмы с поверхностью в термоядерных установках с магнитным удержанием
1.2. Методы анализа состава поверхности, используемые для диагностики ОПЭ
1.3. Методы анализа ОПЭ, основанные на отражении ионов от поверхности
1.3.1. Общие принципы спектроскопии ионного рассеяния
1.3.2. Аналитические методики, использующие ионные пучки
1.4. Выводы к главе
Глава 2. Компьютерное моделирование процессов анализа обращенных к плазме материалов с помощью спектроскопии рассеяния протонов кэвных энергий
2.1. Отражение от двухслойной мишени с тяжелой подложкой и легким поверхностным слоем
2.2. Отражение от двухслойной мишени с легкой подложкой и тяжелым поверхностным слоем
2.3. Выводы к главе
Глава 3. Экспериментальная проверка методики
3.1. Описание экспериментальной установки
3.2. Осаждение золота на кремний и кремния на золото
3.2.1. Перепыление золота ионным пучком
3.2.2. Термическое осаждение золота
3.2.3. Ионное перепыление кремния на золото
3.3. Осаждение лития на вольфрам
3.4. Анализ вольфрама с наноструктурированным слоем на поверхности
3.5. Выводы к главе
Глава 4. Способ определения эрозии и осаждения тонких слоев
на обращенных к плазме элементах плазменных установок
4.1. Концепция реализации предлагаемой методики непосредственно
в термоядерных установках с собственным магнитным полем
4.2. Разработка и испытание встраиваемого анализатора поверхности
4.3. Выводы к главе
Заключение
Список литературы
Список сокращений и условных обозначений
DRS — спектроскопия атомов отдачи, direct recoil spectroscopy ERDA — спектроскопия ядер отдачи, elastic recoil detection analysis FWHM — ширина на полувысоте, full width at half maximum IBSD — перепыление ионным пучком, ion beam sputter deposition LEIS — спектроскопия рассеяния ионов низких энергий, low-energy ion scattering MEIS — спектроскопия рассеяния ионов средних энергий, medium-energy ion scattering
NRA — спектроскопия ядерных реакций, nuclear reaction analysis PIXE — спектроскопия ионно-индуцированного характеристического рентгеновского излучения, particle-induced x-ray emission ВИМС, SIMS — вторично-ионная масс-спектрометрия, secondary ion mass spectrometry
ЛИЭС, LIBS — лазерно-индуцированная эмиссионная спектроскопия, laser-
induced breakdown spectroscopy ОПЭ — обращенные к плазме элементы
РФЭС, XPS — рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия, x-ray
photoelectron spectroscopy СОРР, RBS — спектроскопия обратного резерфордовского рассеяния,
Rutherford backscattering spectroscopy ТЯР — термоядерный реактор
Введение