Каталог / ФИЗИКО-МАТЕМАТИЧЕСКИЕ НАУКИ / Физика
скачать файл: 
- Название:
- Закономерности и механизмы формирования микро- и наноструктур на поверхности алмазов, стеклоуглеродов и углеродных волокон при высокодозном ионном облучении Овчинников Михаил Александрович
- Альтернативное название:
- Patterns and mechanisms of formation of micro- and nanostructures on the surface of diamonds, glassy carbons and carbon fibers under high-dose ion irradiation Ovchinnikov Mikhail Aleksandrovich
- ВУЗ:
- Московский государственный университет им. М.В. Ломоносова
- Краткое описание:
- Овчинников,МихаилАлександрович.Закономерностиимеханизмыформированиямикро-инаноструктурнаповерхностиалмазов,стеклоуглеродовиуглеродныхволоконпривысокодозномионномоблучении: диссертация ... кандидата физико-математических наук : 01.04.15 /ОвчинниковМихаилАлександрович; [Место защиты: Московский государственный университет им. М.В. Ломоносова]. - Москва, 2020. - 128 с.больше
Цитаты из текста:
стр. 1
АВИАЦИОННЫЙ ИНСТИТУТ (НАЦИОНАЛЬНЫЙ ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ УНИВЕРСИТЕТ)» На правах рукописиОвчинниковМихаилАлександровичЗакономерностиимеханизмыформированиямикро- инаноструктурнаповерхностиалмазов,стеклоуглеродовиуглеродныхволоконпривысокодозномионномоблученииСпециальность 01.04.15 - Физика и технологиянаноструктур, атомная и молекулярная физика...
стр. 2
Модифицирование структуры и свойствалмазов,углеродныхволоконистеклоуглеродовприионномоблучении14 1.1.Ионно-лучевое модифицированиеалмазов14 1.2.Ионноеи плазменное модифицированиеповерхности22углеродноговолокна1.3.Ионно-лучевое модифицированиестеклоуглеродов30 1.4. Эффекты аморфизации и
стр. 41
структуры имеханизмовформированияфункциональных микроинаноструктурнаповерхностиалмазов,стеклоуглеродовиуглеродныхволоконпривысокодозномионномоблучениинеобходимыми представляются систематические экспериментальные исследования модифицирования структурыповерхностиалмазов,стеклоуглеродовиуглеродныхволоконоблучениемразличного сорта ионамипри...
Оглавление диссертациикандидат наук Овчинников Михаил Александрович
СОДЕРЖАНИЕ
Список сокращений
Введение
1 Модифицирование структуры и свойств алмазов, углеродных
волокон и стеклоуглеродов при ионном облучении
1.1. Ионно-лучевое модифицирование алмазов
1.2. Ионное и плазменное модифицирование поверхности 22 углеродного волокна
1.3. Ионно-лучевое модифицирование стеклоуглеродов
1.4. Эффекты аморфизации и динамического отжига структуры 35 углеродных материалов при ионном облучении
Выводы по главе
2 Методики ионно-лучевого модифицирования и исследования
2.1. Методика и характеристики ионного облучения на установке «Масс-монохроматор» НИИЯФ МГУ
2.2. Методы структурных исследований
2.3. Характеризация высокодозного ионного облучения
3 Высокодозное ионно-лучевое модифицирование монокристаллического и поликристаллического алмаза
3.1. Электрические характеристики модифицированных высокодозным облучением слоев
3.2. Структурные исследования модифицированных слоев
3.3. Толщина и свойства модифицированных слоев 67 Выводы по главе
4 Изменение морфологии и структуры углеродного волокна из полиакрилонитрила при высокодозном облучении
4.1. Гофрирование ионами инертных газов
4.2. Гофрирование ионами азота
4.3. Эволюция гофрирования с увеличением флуенса облучения 88 Выводы по главе
5 Ионно-индуцированная структура и морфология стеклоуглеродов
5.1. Анализ данных ионно-электронной эмиссии
5.2. Электронная микроскопия облученных стеклоуглеродов
5.3. Спектроскопия комбинационного рассеяния света стеклоуглеродов
Выводы по главе
Заключение
Публикации автора по теме диссертации
Список литературы
СПИСОК СОКРАЩЕНИЙ
УУКМ - углерод-углеродный композиционный материал
УККМ - углерод-керамический композиционный материал
УВ - углеродные волокна
УФ - ультрафиолет
СНА - смещения на атом
ПАН - полиакрилонитрил
ПЭМ - просвечивающая электронная микроскопия
CVD - chemical vapor deposition
ДОБЭ - дифракция отраженных быстрых электронов
ЛГФ - Лазерная гониофотометрия
КРС - комбинационное рассеяние света
РФЭС - рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия
РЭМ - растровая электронная микроскопия
УАС - плазменный ускоритель с анодным слоем
FIB - focused ion beam
ВВЕДЕНИЕ
- Стоимость доставки:
- 230.00 руб